膜厚測定,光学定数測定,複素屈折率・複素誘電率シミュレーションのテクノ・シナジー

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研究業績 - 「受賞歴」

受賞歴

1) IDW '97, Outstanding Poster Paper Aword
T. Tadokoro, K. Akao, T. Akahane, M. Kimura, H. Toriumi: "Polarization Modulated Spectroellipsometry as a New Tool for the Characterization of Liquid Crystal Surface Reorientation Dynamics", IDW '97 (1997) Nagoya, JAPAN.
2) 近接場光学研究グループ,2000年度近接場光学賞
田所利康,斎木敏治,鳥海弥和:「液晶電場応答解析のための近接場光学顕微鏡の開発」,近接場光学研究グループ第9回研究討論会予稿集(2000)p.3.
3) 日本液晶学会,2003年度論文賞B部門
田所利康:「近接場光学顕微鏡を用いた界面液晶配向の電場応答観察」,日本液晶学会誌 EKISHO, 5 (2001) pp.299-307.
4) Analytical Sciences誌,Hot Article Award Analytical Sciences
A. Yamamoto, T. Miwa, M. Kawai, T. Tadokoro, K. Tsutsumi, T. Sato, S. Kodama, and K. Hayakawa: "Development of a Variable-wavelength Optical Rotation Detector in the Ultraviolet Region", Anal. Sci., 27 (2011) pp.799-803.
5) 日本熱物性学会, 2013年度論文賞
桑原正史,遠藤理恵,堤浩一,森笠福好,深谷俊夫,鶴岡徹,須佐匡裕, 鈴木道夫,遠藤智義,田所利康:「高温溶融状態の光ディスク材料複素屈折率測定」, 熱物性, 26, 3 (2012) pp128-135.
6) 日本液晶学会,2014年度論文賞B部門
田所利康:「物質中の光の振る舞いはどのように決まるのか (1) 〜 (4)」, 日本液晶学会誌 EKISHO, 16 (2012) pp.216-224. , 16 (2012) pp.285-292. , 17 (2013) pp.173-182. , 17 (2013) pp.234-244.
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