膜厚測定，分光測定，分光エリプソメトリー，スペクトル解析のテクノ･シナジー

• W.Theiss Hard- and Software
• ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社
• 株式会社オプトクエスト
• 株式会社ユニソク
• 分光計器株式会社
• 株式会社ニコンソリューションズ
• 株式会社イデアルスター
• 足立工業株式会社
• ミクロワールドサービス

< 学会 >

• JSAP 応用物理学会
• 日本液晶学会
• ScienceDirect
• 日本光学会

< 研究会 >

• 偏光計測・制御技術研究グループ
• 強的秩序とその操作に関わる研究グループ
• ナノオプティクス研究グループ

< セミナー >

• 技術情報協会
• 情報機構
• サイエンス＆テクノロジー

• 文部科学省
• 経済産業省
• JST 科学技術振興機構
• NEDO 新エネルギー・産業技術総合開発機構
• 日本学術振興会
• J-STORE（科学技術振興機構：研究成果展開総合データベース）
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• 特許庁
• 工業所有権情報・研修館
• 中小企業庁
• 全国自治体リンク集

< 大学 >

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< 研究機関 >

• AIST 産業技術総合研究所
• NIMS 物質・材料研究所
• JAXA 宇宙航空研究開発機構
• Riken 理化学研究所
• NICT 情報通信研究機構
• 国立天文台

< その他 >

• 東京都立産業技術研究センター
• 情報処理推進機構
• 光産業技術振興協会
• 相模中央化学研究所
• 日本食品分析センター
• 神奈川県立産業技術総合研究所
• 高輝度光科学研究センター
• 日本品質保証機構 JQA
• 東レリサーチセンター
• 材料科学技術振興財団 MST
• 21あおもり産業総合支援センター
• 光科学技術研究振興財団
• テレコム先端技術研究支援センター

• W.Theiss Hard- and Software
• スプレッドシート・エリプソメトリー 山梨大近藤研究室
• エリプソメトリーの基礎 ジェー・エー・ウーラム・ジャパン
• n, k database on NSM

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• 科学・工学に関するリンク集
• AnfoWorld
• 計算式ライブラリー
• 偏光顕微鏡で観察する液晶の世界（東工大石川先生のHP)
• 情報機器と情報社会のしくみ素材集
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• 科学機器・ソフト購入ガイド