膜厚測定,光学定数測定,複素屈折率・複素誘電率シミュレーションのテクノ・シナジー

応用評価システム

偏光特性評価システム TP-1070
偏光特性評価システム TP-1070
TP-1070は,複数のLD光源/LED光源/分光光源を装備できる多目的の透過型偏光測定装置です.従来,複数台の高価な測定装置を用いて行っていた,偏光楕円率測定,無偏光位相差測定,偏光透過率測定,無偏光透過率測定,偏光変調測定など複数の測定モードを,ひとつの光学ワークベンチで行えるよう設計されています.TP-1070では,主要偏光光学素子が機能ブロックごとにユニット化されており,その着脱で測定モードを変更することができます.再現性の高いユニット着脱方式の採用により,高い拡張性と高信頼性を両立しました.

有機太陽電池パラメーターアナライザー SC-1002
有機太陽電池パラメーターアナライザー SC-1002
極分子に強力な光を照射すると,分子の非線形応答によって照明光の第2高調波(SHG)が発生します.SHG-21は,このSHG光を実時間で観察できる世界で唯一の顕微鏡です.SHG光は分子が整列しているほど強くなるため,SHG光を観察することで分子の配列情報が得られます.SHG光の強さは照明光強度の2乗に比例するので,焦点近傍の情報だけを選択的に収集することができ,物体の3次元構造の解明に役立ちます.また,多光子蛍光もリアルタイムで観察可能です.SHG-21は,第2高調波観察-多光子蛍光観察の二つの観察モードをワンタッチで切り替えることができるので,刻一刻と変化する細胞を見逃すことな捉えることができます.
(SC1002-B1カタログ)PDFカタログダウンロード
(SC1002-B2カタログ)PDFカタログダウンロード

偏光制御型透過赤外共焦点レーザー顕微鏡システム ICLM-1
偏光制御型透過赤外共焦点レーザー顕微鏡システム ICLM-1
IICLM-1は,高周波動作のEO素子における偏光変化を微小観測スポットで観測することを目的としています.システムは,入射レーザー光および試料透過光の偏光状態を精密に制御する偏光コントローラーと透過型赤外域共焦点レーザー顕微鏡から構成されていて,両者はFCコネクター付きシングルモードファイバーで接続されています.顕微鏡の試料ステージには,プローバー(オプション)の装着が可能で,高周波ネットワーク・アナライザーと組み合わせて,EO素子を高周波電場駆動しながらの偏光変化計測が可能です.

光ディスク分光特性測定装置 OD-1050M
光ディスク分光特性測定装置 OD-1050M
OD-1050Mは,光ディスク材料薄膜の分光特性測定を目的とした高感度分光システムです.OD-1050Mでは,大きな集光立体角を持つ対物レンズにより集光されたサンプル光を光ファイバーによりロス無く分光器に導く集光系,大きなF値でありながら光検出器の受光領域全域で良好な結像性能を有する分光器,量子効率が高くS/N比のよい冷却高感度CCD光検出器の採用,不要散乱光をカットするエッジフィルターおよびノッチフィルターの装備など,極微弱光の高感度検出に最適化されています.

カスタムメイド光学評価システム
カスタムメイド光学評価システム
分光技術,共焦点レーザー顕微鏡技術,プローブ顕微鏡技術,ファイバー光学系技術,成膜技術,分光偏光解析技術などの融合により,単なる測定ハードウエアの提供に止まらず,様々なアプリケーションに対応した分光システム,光学評価システムを提供いたします.ご希望のアプリケーションについてご相談ください.最適なシステムを提案させていただきます.

ページの先頭へ