分光エリプソメーター
二重回転補償子型高速分光エリプソメーター RC2
» 膜厚測定製品:二重回転補償子型高速分光エリプソメーター RC2 詳細を見る
高速分光エリプソメーター M-2000 シリーズ
» 膜厚測定製品:高速分光エリプソメーター M2000 詳細を見る
水平自動入射角 M-2000
J.A.Woollam Co., Inc. 製 水平自動入射角タイプは大面積マッピング,自動サンプルアライメント,溶液セルなどさまざまなオプションに対応可能です. 一般的な用途や大きなサンプルに最適です. |
垂直自動入射角 M-2000
J.A.Woollam Co., Inc. 製 垂直自動入射角は幅広い入射角の設定が可能であり,柔軟に反射・透過配置での測定ができるようにサンプルステージとディテクターの角度を独立して制御できます. |
固定入射角 M-2000
J.A.Woollam Co., Inc. 製 固定入射角のM-2000です. 50×50 mm ストロークの自動XYマッピングステージに対応しています. |
集光専用 M-2000
J.A.Woollam Co., Inc. 製 集光ビーム仕様のM-2000は, 最小スポットサイズ:25 x 60 µmでの微小領域測定が可能です. パターン付きのウエハー, ハードディスクのスライダーヘッド, 曲面や球面レンズ表面薄膜などのアプリケーションに対応できます. |