膜厚測定,光学定数測定,複素屈折率・複素誘電率シミュレーションのテクノ・シナジー

分光システム

顕微分光システム DF-1037シリーズ
DF-1037シリーズ
DF-1037シリーズは,高性能な分光システムと高機能な顕微鏡システムを高い次元で融合させた顕微分光システムです.DF-1037シリーズには,新設計コールドフィルターWECFの採用による広帯域分光測定,高解像度デジタル画像撮影,スペクトル解析ソフトウエアSCOUTなど,高度なご要求にお答えする充実した機能が搭載されています.また,ニコン製顕微鏡をビルドアップしているため,顕微鏡の機能や拡張性を損なうことなく顕微分光測定を行うことができます.
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顕微分光システム DF-1037シリーズ (特注対応)
DF-1037シリーズ(特注対応)
DF-1037シリーズは,ユーザーの高度な測定ニーズに合わせた特注顕微鏡システムの構築が可能です.高性能な分光システム,高機能な顕微鏡システム,高度なスペクトル解析ソフトウエアと,ご要求に合わせたメカ設計/光学設計をトータルに融合させることで,市販品の改造では得られないハイスペックと使い勝手を実現します.

高輝度照射分光システム LSX-2501
高輝度照射分光システム LSX-2501
LSX-2501は,高集光効率リフレクタを装備したキセノン光源部と非球面ミラー採用の収差補正型モノクロメーターの組み合わせにより,可視から近赤外領域(360nm ~ 1500nm)における高輝度な単色光照射(10mW at 470nm)を可能にした照射分光システムです.光照射部に光ファイバーを用いることで,思い通りの場所に必要な波長の単色光をデリバリーすることが可能です.
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高輝度照射分光システム LSX-2502
高輝度照射分光システム LSX-2502
LSX-2502は,照射面内強度が均一な10mm角の高輝度単色光を照射することができる分光システムです.高集光効率リフレクタを装備した150Wキセノン光源と非球面ミラー採用の収差補正型モノクロメーターを組み合わせることで, 5mW/cm2 以上(at 470nm)の高い照射光強度と波長純度約24nmの単色性を両立しました.また,分光部は,オプションで,外部コンピュータからのGP-IB制御が可能です.

ファインポリクロメータ MK300
ファインポリクロメータ MK300
分光計器株式会社製
非点収差を極限まで低減した新設計光学系採用の高分解ポリクロメータです.出射結像面全域で歪みのないシャープな結像特性が得られるため,2次元検出器の性能を最大限に利用することができます.回折格子は最大3枚内蔵でき,回折格子の交換も簡単に行うことができます.回折格子の切り替え,波長移動などの制御はコンピュータで行います.
  • 焦点距離: 300mm
  • 明るさ: F/4.4
  • 波長範囲: 200nm~
  • 波長分解: FWHM 0.1nm(3pixels,26μm/pixel)
※回折格子: 1200本/mm,スリット幅:0.01mmの場合
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顕微鏡接続用分光器 CLP-50TS
顕微鏡接続用分光器 CLP-50TS
分光計器株式会社製
顕微鏡のCマウントに接続して使用するイメージング分光器です.CCDなどの検出器(別売)とは,Cマウントで接続します.回折格子/ミラーの切り替えで,サンプルイメージ撮影,分光測定が選択できます.集光系に収差補正カメラレンズを採用しているため,小型分光器ながら,収差の少ないイメージング分光が可能です.
  • 焦点距離: 50mm
  • 明るさ: F/1.8
  • 波長範囲: 382.1〜617.8nm(500nm中心)
  • 波長分散: 約0.3nm/pixel
※回折格子:600本/mm,検出器:8μm/pixel × 1000画素の場合

カメラレンズ分光器 CLP-400
カメラレンズ分光器 CLP-400
分光計器株式会社製
CLP-400は,F/2.8の明るさとシャープな結像性能を両立させた分光器です.CCD受光面に入射スリット像が忠実に結像されるため,バンドル型光ファイバーを用いた多点分光計測,2次元イメージ分光に最適です.焦点距離100mmのCLP-100から焦点距離400mmのCLP-400まで,ラインナップは4タイプです.
  • 焦点距離: 400mm
  • 明るさ: F/2.8
  • 波長範囲: 400nm~700nm
  • 同時測定波長幅: 約6nm
  • 波長分散: 約0.012nm/pixel
※回折格子: 2160本/mm,CCDの受光幅:0.016mm/chの場合

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