光学製品一覧
テクノ･シナジー取扱製品一覧（3.4MB）
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テクノ・シナジーの膜厚測定システム
スペクトル解析ソフトウエア
- スペクトル解析ソフトウエア SCOUT
- コーティングデザイナー CODE
- スペクトル測定ソフトウエア Spectra JB2
- 分光レイトレイシングソフトウエア SPRAY
- 膜設計支援ツール GenetiCode
膜厚測定システム
- 光学膜厚測定システム DF-DF-1045シリーズ DF-1045R
- 光学膜厚測定システム DF-1045シリーズ DF-1045RT
- 簡易反射測定ステージ SS-Rシリーズ
- 顕微分光システム DF-1037シリーズ
- 顕微鏡接続用CマウントCMOSカメラ
- 顕微分光システム DF-1037シリーズ（特注対応）
- 光学膜厚モニター DF-1040
分光システム
- 顕微分光システム DF-1037シリーズ（特注対応）
- 顕微PL分光システム DF-1037シリーズ（特注対応）
- HeCdレーザー励起PL分光システム PL-325S（特注対応）
- Cマウント接続顕微分光器 CM-50TS
- ファインポリクロメータ MK-300
- 紫外用イメージング分光器 CLP-105UV
- カメラレンズ分光器 CLP-400
- 真空紫外ポリクロメータ KV-201P
- 簡易反射ステージ SS-Rシリーズ
- 広帯域光ファイバーコリメーター BBFC-03SMA
- スペクトル測定ソフトウエア Spectra JB
- ファイバマルチチャンネル分光器 FLAME-T
- 超高感度ファイバマルチチャンネル分光器 QEPro
- 近赤外ファイバマルチチャンネル分光器 FLAME-NIR
- 超高分解能ファイバマルチチャンネル分光器 HR2000+
- 超高分解能ファイバマルチチャンネル分光器 HR4000
- 裏面入射型高感度・高分解マルチチャンネル分光器 MAYA2000Pro
- 近赤外用ファイバマルチチャンネル分光器 NIRQuest
- ハロゲン光源（空冷ファン付） HL-2000シリーズ
- プレミアムグレードパッチコード光ファイバー
- 反射測定用プローブ Rシリーズ
- 広帯域誘電体多層膜ミラー BBMR
- オプトメカトロ部品
- カスタムメイド分光システム
応用評価システム
- 顕微分光システム DF-1037シリーズ （特注対応）
- 分光感度・量子効率測定装置 BQE-100
- センサー分光感度測定システム VC-250
- 波長可変光源 NIJI-2
- 高輝度照射分光システム LSX-2501
- 高輝度照射分光システム LSX-2502
- 卓上型真空紫外分光光度計 KV-202
- イオン化エネルギー測定装置 BIP-KV201
- 蛍光量子収率測定装置
- 極微弱吸収分光システム HSP-1
- 高濃度・低反射測定用分光光度計 SSP-1
- 精密反射率測定システム TRMS-200
- 偏光特性評価システム TP-1070
- 偏光制御型透過赤外共焦点レーザー顕微鏡システム ICLM-1
- 光ディスク分光特性測定装置 OD-1050M
分光エリプソメーター
- 二重回転補償子型高速分光エリプソメーター RC2
- 高速分光エリプソメーター M-2000 シリーズ
- 水平自動入射角 M-2000
- 垂直自動入射角 M-2000
- 固定入射角 M-2000
- 集光専用 M-20000
- 簡易高速分光エリプソメーター Alpha-SE
- 赤外域多入射角分光エリプソメーター IR-VASE Mark II
- 真空紫外分光エリプソメーター VUV-VASE
- 自動多入射角分光エリプソメーター V-VASE
- J.A.Woollam製分光エリプソメーター用マッピングステージ（オプション）
- J.A.Woollam製分光エリプソメーター用集光とカメラ（オプション）
- J.A.Woollam製分光エリプソメーター用温度制御ステージ（オプション）
- J.A.Woollam製分光エリプソメーター用In-Situ測定（オプション）
- J.A.Woollam製分光エリプソメーター用特注SPRプリズムステージ（特注オプション）
- J.A.Woollam製分光エリプソメーター用特注透過ステージ（特注オプション）
- J.A.Woollam製分光エリプソメーター用特注反射回転ステージ（特注オプション）
- J.A.Woollam製分光エリプソメーター用特注架台（特注オプション）
プローブ顕微鏡
- 高真空STMシステム HS-1000
- 走査型トンネル顕微鏡装置 USM-1100S / 走査型プローブ顕微鏡装置 USM-1100SA
- 温度可変超低温走査型トンネル顕微鏡装置USM-1300S 4HeVTI /
3He 超低温走査型トンネル顕微鏡装置USM-1300S 3He - 走査型トンネル顕微鏡装置 USM-1400S / マルチモードSPM USM-1400M/
4-プローブSPM USM-1400 4P - カスタムメイドSPM
光学モジュール
- 顕微鏡用LED光源 LSM-365LED-N
- 屈折計用画像モニター IM-10A
- 偏光コントローラー MPC-1015M
- NSOM 偏光コントローラー NPC-1015M
- ファイバー型波長合成モジュール WM-78/83FS
- レーザースペックルキラー SK-11
- ファイバー光学モジュール
光学デバイス
- 広帯域光ファイバーコリメーター BBFC-03SMA
- 広帯域誘電体多層膜ミラー BBMR
- ダイクロイックミラー
- Z 偏光素子 ZPol
- 各種フィルター
- アルミブレッドボード
- ポリエチレン・ブレッドボード
