膜厚測定,分光測定,分光エリプソメトリー,スペクトル解析のテクノ・シナジー

執筆書籍のご案内

「ビジュアル解説 光学入門」

田所利康:「ビジュアル解説 光学入門」, 朝倉書店 (2024).


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「液晶科学実験講座 -基礎と計測-」

日本液晶学会編:「液晶科学実験講座 -基礎と計測-」,国際文献社(2017) pp.1-38.
田所利康(分担執筆):第1章〜第4章 物質中の光の振る舞いはどのように決まるのか(1)〜(4)
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「光の教科書」

チームオプト編集委員会編:「光の教科書」,オプトロニクス社(2016) pp.126-141.
田所利康(分担執筆):第9章 自然の中の光 散乱
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「イラストレイテッド 光の実験」

大津元一監修,田所利康著:「イラストレイテッド 光の実験」,朝倉書店 (2016).

「イラストレイテッド 光の科学」

大津元一監修,田所利康・石川謙著:「イラストレイテッド 光の科学」, 朝倉書店 (2014).

「光学薄膜の最適設計・成膜技術と膜厚・膜質・光学特性の制御」

田所利康(分担執筆):「光学薄膜の最適設計・成膜技術と膜厚・膜質・光学特性の制御」,
第3章 光学薄膜の分析・評価技術 第2節 分光エリプソメトリーによる薄膜の光学物性評価,
技術情報協会 (2013) pp.116-127.

「分光エリプソメトリーの基礎と応用」

田所利康:「分光エリプソメトリーの基礎と応用」,光技術コンタクト, 48, 3 (2010) pp.17-23.

「光配向テクノロジーの開発動向」

市村國宏監修,田所利康(分担執筆):「光配向テクノロジーの開発動向」,
第2編 分子配向と新たな光配向手法 第1章 光学異方性膜の膜厚・光学定数解析,
シーエムシー出版 (2010) pp.15-26.

「光学入門」~光の性質を知ろう~

大津元一,田所利康:「光学入門」~光の性質を知ろう~, 先端光技術シリーズ1,朝倉書店 (2008).
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「LCDの表示原理と視野角・光学補償と輝度向上」

田所利康(分担執筆):「LCDの表示原理と視野角・光学補償と輝度向上」,
第4章 液晶配向 第5節 液晶界面配向の光学解析,技術情報協会 (2006) pp.187-201.

「光学実務資料集」~各種応用展開を見据えて~

田所利康(分担執筆):「光学実務資料集」~各種応用展開を見据えて~,
第11章 測定 第1節 光学特性測定法,第2節 分光エリプソメトリー,
第24章 よくあるQ&A編 第4節 透明基板上の金属単層膜の屈折率及び消衰係数の求め方は?,
情報機構(2006)pp.199-220, pp.493-498.

「光学薄膜の製造・評価と製品別最新動向」

田所利康(分担執筆):「光学薄膜の製造・評価と製品別最新動向」,
第5章 測定 第1節 分光エリプソメトリー,第2節 分光干渉法,
情報機構(2005)pp.241-264.

「時間分解エリプソメトリーを用いた液晶界面配向のダイナミクス解析」

赤羽正志,田所利康,鳥海弥和:「時間分解エリプソメトリーを用いた液晶界面配向のダイナミクス解析」, Jasco Report, 43, 2 (2001) pp.65-73.

「SNOMを用いたDVD-RAMの記録マーク評価」

田所利康:「SNOMを用いたDVD-RAMの記録マーク評価」,
Jasco Report, 42, 2 (2000) pp.54-58.

「ナノメータ領域の構造解析を可能にする近接場ラマン分光システムの試作」

田所利康,成田貴人,池田照樹:「ナノメータ領域の構造解析を可能にする近接場ラマン分光システムの試作」, Jasco Report, 40, 2 (1998) pp.27-34.

「近接場ナノフォトニクスハンドブック」

田所利康(分担執筆):「近接場ナノフォトニクスハンドブック」,
凝縮系の分光計測(2)ラマン分光システムの構築とそのポイント,
大津元一,河田聡編:オプトロニクス社 (1997) pp96-101.

「M-150型分光エリプソメータの紹介」

田所利康,吉田裕:「M-150型分光エリプソメータの紹介」,
Jasco Report, 35, 2 (1993) pp.40-46.

「垂直磁気ディスクの非破壊評価」

田所利康:「垂直磁気ディスクの非破壊評価」,
Jasco Report, 33, 5/6 (1991) pp.66-69.

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